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Tektronix/泰克
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KEITHLEY/吉時(shí)利
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FLUKE/福祿克
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HIOKI/日置
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FLIR/菲力爾
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C測試儀 3504-40/50/60 -
C測試儀 3504-40/50/60
- 型號3504-40，3504-50，3504-60
- 品牌HIOKI/日置
- 價(jià)格
高速測量2ms 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線(xiàn)，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實(shí)體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數
| 測量參數 | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ） |
|---|---|
| 測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數 |
| 測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
| 測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60)， 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
| 輸出電阻 | 5Ω（CV測量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí)） |
| 顯示 | 發(fā)光二級管 （6位表示，滿(mǎn)量程計算器根據量程而定） |
| 測量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※測量時(shí)間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分類(lèi)測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 電源線(xiàn)×1，預備電源保險絲×1，使用說(shuō)明書(shū)×1 |
測試冶具或電纜
SMD測試治具9699
用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
SMD測試治具9677
用于側面有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9263
直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
測試治具9262
DC～8 MHz, 直接連接型
測試治具9261
電纜連接型, DC ～ 5 MHz, 1m長(cháng)
鑷形探頭L2001
線(xiàn)長(cháng)73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
4端子測試探頭 9140
DC～100kHz, 1m長(cháng)
打印機
打印機 9442
數碼打印
AC適配器9443-02
適用于打印機9442
連接電纜 9444
適用于9442, 線(xiàn)長(cháng):1.5 m
記錄紙 1196
112mm x 25m, 10卷/盒
PC 通訊器
GP-IB連接線(xiàn)9151-02
2m長(cháng)
- 上一條：C測試儀 3506-10
- 下一條：沒(méi)有了
